Current injection from metal to MoS2 probed at nanoscale by conductive atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Current injection from metal to MoS2 probed at nanoscale by conductive atomic force microscopy

Giannazzo, F. / Fisichella, G. / Piazza, A. / Di Franco, S. / Oliveri, I.P. / Agnello, S. / Roccaforte, F.

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Titel:

Current injection from metal to MoS2 probed at nanoscale by conductive atomic force microscopy

Beteiligte:

Giannazzo, F. (Autor:in) / Fisichella, G. (Autor:in) / Piazza, A. (Autor:in) / Di Franco, S. (Autor:in) / Oliveri, I.P. (Autor:in) / Agnello, S. (Autor:in) / Roccaforte, F. (Autor:in)

Erschienen in:

Materials science in semiconductor processing ; 42 ; 174-178

Erscheinungsdatum:

01.01.2016

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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