SIMS depth profiling analysis of electrical arc residues in fire investigation: Fid-Bau Portal

SIMS depth profiling analysis of electrical arc residues in fire investigation

Chen, C. Y. / Ling, Y. C. / Wang, J. T. / Chen, H. Y.

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Titel:

SIMS depth profiling analysis of electrical arc residues in fire investigation

Beteiligte:

Chen, C. Y. (Autor:in) / Ling, Y. C. (Autor:in) / Wang, J. T. (Autor:in) / Chen, H. Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 779-784

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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