Electrical characterization of charges in irradiated oxides by electrostatic force microscopy and Kelvin method: Fid-Bau Portal

Electrical characterization of charges in irradiated oxides by electrostatic force microscopy and Kelvin method

Dongmo, H. / Carlotti, J. F. / Bruguier, G. / Guasch, C. / Bonnet, J. / Gasiot, J.

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Titel:

Electrical characterization of charges in irradiated oxides by electrostatic force microscopy and Kelvin method

Beteiligte:

Dongmo, H. (Autor:in) / Carlotti, J. F. (Autor:in) / Bruguier, G. (Autor:in) / Guasch, C. (Autor:in) / Bonnet, J. (Autor:in) / Gasiot, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 212-213 ; 607-613

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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