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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Characterizations of SiC/SiO~2 Interface Quality Towards High Power MOSFETs Realization

    Beteiligte:

    Ziane, D. (Autor:in) / Bluet, J. M. (Autor:in) / Guillot, G. (Autor:in) / Godignon, P. (Autor:in) / Monserrat, J. (Autor:in) / Ciechonski, R. (Autor:in) / Syvajarvi, M. (Autor:in) / Yakimova, R. (Autor:in) / Chen, L. (Autor:in) / Mawby, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 1281-1286

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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