Photo-EPR and Hall Measurements on Undoped High Purity Semi-Insulating 4H-SiC Substrates: Fid-Bau Portal

Photo-EPR and Hall Measurements on Undoped High Purity Semi-Insulating 4H-SiC Substrates

Kalabukhova, E. N. / Lukin, S. N. / Savchenko, D. V. / Mitchel, W. C. / Mitchell, W. D.

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Titel:

Photo-EPR and Hall Measurements on Undoped High Purity Semi-Insulating 4H-SiC Substrates

Beteiligte:

Kalabukhova, E. N. (Autor:in) / Lukin, S. N. (Autor:in) / Savchenko, D. V. (Autor:in) / Mitchel, W. C. (Autor:in) / Mitchell, W. D. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 501-504

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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