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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Surface potential mapping of biased pn junction with kelvin probe force microscopy: application to cross-section devices

    Beteiligte:

    Doukkali, A. (Autor:in) / Ledain, S. (Autor:in) / Guasch, C. (Autor:in) / Bonnet, J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 235 ; 507-512

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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