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Characterization of structural films using microelectromechanical resonators

MUHLSTEIN, C. L.

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Titel:

Characterization of structural films using microelectromechanical resonators

Beteiligte:

MUHLSTEIN, C. L. (Autor:in)

Erschienen in:

FATIGUE AND FRACTURE OF ENGINEERING MATERIALS AND STRUCTURES ; 28 ; 711-721

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

8756-758X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1123

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