Study of process induced variation in the minority carrier lifetime of silicon during solar cells fabrication: Fid-Bau Portal

Study of process induced variation in the minority carrier lifetime of silicon during solar cells fabrication

Dhungel, S. K. / Yoo, J. / Kim, K. / Ghosh, S. / Jung, S. / Yi, J.

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Titel:

Study of process induced variation in the minority carrier lifetime of silicon during solar cells fabrication

Beteiligte:

Dhungel, S. K. (Autor:in) / Yoo, J. (Autor:in) / Kim, K. (Autor:in) / Ghosh, S. (Autor:in) / Jung, S. (Autor:in) / Yi, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 134 ; 287-290

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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