Compositional contrast in AlxGa1-xN/GaN heterostructures using scanning spreading resistance microscopy: Fid-Bau Portal

Compositional contrast in AlxGa1-xN/GaN heterostructures using scanning spreading resistance microscopy

Fraser, I. S. / Oliver, R. A. / Sumner, J. / McAleese, C. / Kappers, M. J. / Humphreys, C. J.

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Titel:

Compositional contrast in AlxGa1-xN/GaN heterostructures using scanning spreading resistance microscopy

Beteiligte:

Fraser, I. S. (Autor:in) / Oliver, R. A. (Autor:in) / Sumner, J. (Autor:in) / McAleese, C. (Autor:in) / Kappers, M. J. (Autor:in) / Humphreys, C. J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 253 ; 3937-3944

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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