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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Evaluation of Unintentionally Doped Impurities in Silicon Carbide Substrates Using Neutron Activation Analysis

    Beteiligte:

    Ohshima, T. (Autor:in) / Tokunaga, O. (Autor:in) / Issiki, M. (Autor:in) / Sasajima, F. (Autor:in) / Itoh, H. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I. / Horsfall, A.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 457-460

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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