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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Formation of Deep Traps at the 4H-SiC/SiO~2 Interface when Utilizing Sodium Enhanced Oxidation

    Beteiligte:

    Allerstam, F. (Autor:in) / Gudjonsson, G. (Autor:in) / Sveinbjornsson, E. O. (Autor:in) / Rodle, T. (Autor:in) / Jos, R. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I. / Horsfall, A.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 517-520

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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