Evaluation of Termination Techniques for 4H-SiC Pin Diodes and Trench JFETs: Fid-Bau Portal

Evaluation of Termination Techniques for 4H-SiC Pin Diodes and Trench JFETs

Mihaila, A. / Udrea, F. / Rashid, S. J. / Amaratunga, G. / Kataoka, M. / Takeuchi, Y. / Malhan, R. K.

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Titel:

Evaluation of Termination Techniques for 4H-SiC Pin Diodes and Trench JFETs

Beteiligte:

Mihaila, A. ( Autor:in ) / Udrea, F. ( Autor:in ) / Rashid, S. J. ( Autor:in ) / Amaratunga, G. ( Autor:in ) / Kataoka, M. ( Autor:in ) / Takeuchi, Y. ( Autor:in ) / Malhan, R. K. ( Autor:in ) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. ... [mehr]

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 925-928

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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