Analysis of the abnormal resistance in AlGaN/GaN heterostructure's ohmic contact tests: Fid-Bau Portal

Analysis of the abnormal resistance in AlGaN/GaN heterostructure's ohmic contact tests

Xu, C. / Wang, J. / Jin, H. / Zhou, J. / Wen, C.P.

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Titel:

Analysis of the abnormal resistance in AlGaN/GaN heterostructure's ohmic contact tests

Beteiligte:

Xu, C. (Autor:in) / Wang, J. (Autor:in) / Jin, H. (Autor:in) / Zhou, J. (Autor:in) / Wen, C.P. (Autor:in)

Erschienen in:

RARE METALS -BEIJING- ENGLISH EDITION ; 26 ; 463-469

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

1001-0521

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 669

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