Platinum thin films deposited on silicon oxide by focused ion beam: characterization and application: Fid-Bau Portal

Platinum thin films deposited on silicon oxide by focused ion beam: characterization and application

Vaz, A. R. / Silva, M. M. / Leon, J. / Moshkalev, S. A. / Swart, J. W.

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Titel:

Platinum thin films deposited on silicon oxide by focused ion beam: characterization and application

Beteiligte:

Vaz, A. R. (Autor:in) / Silva, M. M. (Autor:in) / Leon, J. (Autor:in) / Moshkalev, S. A. (Autor:in) / Swart, J. W. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 43 ; 3429-3434

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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