Shave-off vector profiling for TEM samples: Fid-Bau Portal

Shave-off vector profiling for TEM samples

Nojima, M. / Fujii, M. / Ishizaki, Y. / Owari, M. / Nihei, Y.

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Titel:

Shave-off vector profiling for TEM samples

Beteiligte:

Nojima, M. (Autor:in) / Fujii, M. (Autor:in) / Ishizaki, Y. (Autor:in) / Owari, M. (Autor:in) / Nihei, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1400-1403

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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