SIMS depth profiling analysis of halogens in CdTe/CdS/TSO solar cells using Cs2M+ cluster ions: Fid-Bau Portal

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SIMS depth profiling analysis of halogens in CdTe/CdS/TSO solar cells using Cs2M+ cluster ions

Koudriavtseva, O. / Morales-Acevedo, A. / Kudriavtsev, Y. / Gallardo, S. / Asomoza, R. / Mendoza-Perez, R. / Sastre-Hernandez, J. / Contreras-Puente, G.

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Koudriavtseva, O. / Morales-Acevedo, A. / Kudriavtsev, Y. / Gallardo, S. / Asomoza, R. / Mendoza-Perez, R. / Sastre-Hernandez, J. / Contreras-Puente, G.

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Titel:

SIMS depth profiling analysis of halogens in CdTe/CdS/TSO solar cells using Cs2M+ cluster ions

Beteiligte:

Koudriavtseva, O. (Autor:in) / Morales-Acevedo, A. (Autor:in) / Kudriavtsev, Y. (Autor:in) / Gallardo, S. (Autor:in) / Asomoza, R. (Autor:in) / Mendoza-Perez, R. (Autor:in) / Sastre-Hernandez, J. (Autor:in) / Contreras-Puente, G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1423-1426

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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