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4H-SiC Wafers Studied by X-Ray Absorption and Raman Scattering

Xu, Q. / Sun, H.Y. / Chen, C. / Jang, L.Y. / Rusli, E. / Mendis, S.P. / Tin, C.C. / Qiu, Z.R. / Wu, Z.Y. / Liu, C.W.

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Titel:

4H-SiC Wafers Studied by X-Ray Absorption and Raman Scattering

Beteiligte:

Xu, Q. (Autor:in) / Sun, H.Y. (Autor:in) / Chen, C. (Autor:in) / Jang, L.Y. (Autor:in) / Rusli, E. (Autor:in) / Mendis, S.P. (Autor:in) / Tin, C.C. (Autor:in) / Qiu, Z.R. (Autor:in) / Wu, Z.Y. (Autor:in) / Liu, C.W. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 509-512

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

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