Defect Related Leakage Current Components in SiC Schottky Barrier Diode: Fid-Bau Portal

Defect Related Leakage Current Components in SiC Schottky Barrier Diode

Ohtsuka, K. / Nakatani, T. / Nagae, A. / Watanabe, H. / Nakaki, Y. / Fujii, Y. / Fujihira, K. / Nakata, S. / Yutani, N.

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Titel:

Defect Related Leakage Current Components in SiC Schottky Barrier Diode

Beteiligte:

Ohtsuka, K. (Autor:in) / Nakatani, T. (Autor:in) / Nagae, A. (Autor:in) / Watanabe, H. (Autor:in) / Nakaki, Y. (Autor:in) / Fujii, Y. (Autor:in) / Fujihira, K. (Autor:in) / Nakata, S. (Autor:in) / Yutani, N. (Autor:in) / Yamada-Kaneta, H.

Erschienen in:

Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV ; 53-56

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 725

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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