Behaviour of Light Induced Defect Generation and Carrier Lifetime Degradation in Solar Grade Silicon: Fid-Bau Portal

Behaviour of Light Induced Defect Generation and Carrier Lifetime Degradation in Solar Grade Silicon

Rezgui, B.D. / Yen, V.M.-T. / Perichaud, I. / Barakel, D. / Pasquinelli, M. / Palais, O.

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Titel:

Behaviour of Light Induced Defect Generation and Carrier Lifetime Degradation in Solar Grade Silicon

Beteiligte:

Rezgui, B.D. (Autor:in) / Yen, V.M.-T. (Autor:in) / Perichaud, I. (Autor:in) / Barakel, D. (Autor:in) / Pasquinelli, M. (Autor:in) / Palais, O. (Autor:in) / Yamada-Kaneta, H. / Sakai, A.

Erschienen in:

Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors XIV ; 141-144

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 725

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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