Optical characterization of polycrystalline ZnSe1−xTex thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotmetery techniques: Fid-Bau Portal

Optical characterization of polycrystalline ZnSe1−xTex thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotmetery techniques

Shaaban, E.R. / El-Hagary, M. / Emam-Ismail, M. / Abd Elnaeim, A.M. / Moustafa, S.H. / Adel, A.

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Titel:

Optical characterization of polycrystalline ZnSe1−xTex thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotmetery techniques

Beteiligte:

Shaaban, E.R. (Autor:in) / El-Hagary, M. (Autor:in) / Emam-Ismail, M. (Autor:in) / Abd Elnaeim, A.M. (Autor:in) / Moustafa, S.H. (Autor:in) / Adel, A. (Autor:in)

Erschienen in:

Materials science in semiconductor processing ; 39 ; 735-741

Erscheinungsdatum:

01.01.2015

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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