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OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target capable of producing an amorphous or crystalline oxide semiconductor thin film comprising indium and gallium having a high carrier mobility with an annealing treatment at a temperature lower than before and to provide an oxide sintered body comprising indium and gallium optimal for obtaining the same.SOLUTION: There is provided an oxide sintered body comprising an oxide of indium and gallium, which has a gallium content of 0.10 or more and 0.49 or less in terms of an atomic ratio Ga/(In+Ga) and an Lvalue of 50 or more and 68 or less in CIE1976 color system and is composed of an InOphase of a bixbyite type structure, a GaInOphase of a β-GaOtype structure other than the InOphase as a production phase or a GaInOphase of a β-GaOtype structure and a (Ga,In)Ophase.SELECTED DRAWING: None
【課題】高いキャリア移動度を有するインジウム及びガリウムからなる非晶質あるいは結晶質の酸化物半導体薄膜の製造が、従来と比較してより低い温度のアニール処理で可能になるスパッタリング用ターゲット、それを得るのに最適なインジウム及びガリウムからなる酸化物焼結体を提供すること。【解決手段】インジウム、及びガリウムの酸化物からなる酸化物焼結体であって、ガリウムの含有量がGa/(In+Ga)原子数比で0.10以上0.49以下であり、CIE1976表色系におけるL*値が50以上68以下であって、ビックスバイト型構造のIn2O3相と、In2O3相以外の生成相としてβ−Ga2O3型構造のGaInO3相、あるいはβ−Ga2O3型構造のGaInO3相と(Ga,In)2O3相によって構成されることを特徴とする酸化物焼結体である。【選択図】なし
OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sputtering target capable of producing an amorphous or crystalline oxide semiconductor thin film comprising indium and gallium having a high carrier mobility with an annealing treatment at a temperature lower than before and to provide an oxide sintered body comprising indium and gallium optimal for obtaining the same.SOLUTION: There is provided an oxide sintered body comprising an oxide of indium and gallium, which has a gallium content of 0.10 or more and 0.49 or less in terms of an atomic ratio Ga/(In+Ga) and an Lvalue of 50 or more and 68 or less in CIE1976 color system and is composed of an InOphase of a bixbyite type structure, a GaInOphase of a β-GaOtype structure other than the InOphase as a production phase or a GaInOphase of a β-GaOtype structure and a (Ga,In)Ophase.SELECTED DRAWING: None
【課題】高いキャリア移動度を有するインジウム及びガリウムからなる非晶質あるいは結晶質の酸化物半導体薄膜の製造が、従来と比較してより低い温度のアニール処理で可能になるスパッタリング用ターゲット、それを得るのに最適なインジウム及びガリウムからなる酸化物焼結体を提供すること。【解決手段】インジウム、及びガリウムの酸化物からなる酸化物焼結体であって、ガリウムの含有量がGa/(In+Ga)原子数比で0.10以上0.49以下であり、CIE1976表色系におけるL*値が50以上68以下であって、ビックスバイト型構造のIn2O3相と、In2O3相以外の生成相としてβ−Ga2O3型構造のGaInO3相、あるいはβ−Ga2O3型構造のGaInO3相と(Ga,In)2O3相によって構成されることを特徴とする酸化物焼結体である。【選択図】なし
OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET
酸化物焼結体及びスパッタリング用ターゲット
NAKAYAMA NORIYUKI (author) / NISHIMURA EIICHIRO (author) / MATSUMURA FUMIHIKO (author)
2017-09-07
Patent
Electronic Resource
Japanese
OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET COMPRISING OXIDE SINTERED BODY
European Patent Office | 2016
|OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET COMPRISING OXIDE SINTERED BODY
European Patent Office | 2017
|OXIDE SINTERED BODY AND SPUTTERING TARGET COMPRISING OXIDE SINTERED BODY
European Patent Office | 2018