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OXIDE TARGET MATERIAL
To provide an oxide target material that resolves instability of threshold voltage, and is for forming a ZTO thin film constituting a channel layer of a TFT that drives a high-definition display or the like.SOLUTION: An oxide target material contains Sn of 20 atom%-50 atom% relative to the total content of metal components, with the balance being Zn and inevitable impurities. In the Labcolor system, ais -2.5 or less, and bis -0.3 or less; preferably, ais -3.0 or more and bis -0.8 or more. Relative to the total content of metal components, at least one of Al, Si, Ga, Mo and W may be contained by 0.005 atom%-4.000 atom% in total.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】 閾値電圧の不安定性を抑制した、高精細のディスプレイなどを駆動するTFTのチャネル層を構成するZTO薄膜を形成するための酸化物ターゲット材を提供する。【解決手段】 金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなり、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下であり、a*は−3.0以上、b*は−0.8以上であることが好ましく、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することもできる。【選択図】 図1
OXIDE TARGET MATERIAL
To provide an oxide target material that resolves instability of threshold voltage, and is for forming a ZTO thin film constituting a channel layer of a TFT that drives a high-definition display or the like.SOLUTION: An oxide target material contains Sn of 20 atom%-50 atom% relative to the total content of metal components, with the balance being Zn and inevitable impurities. In the Labcolor system, ais -2.5 or less, and bis -0.3 or less; preferably, ais -3.0 or more and bis -0.8 or more. Relative to the total content of metal components, at least one of Al, Si, Ga, Mo and W may be contained by 0.005 atom%-4.000 atom% in total.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】 閾値電圧の不安定性を抑制した、高精細のディスプレイなどを駆動するTFTのチャネル層を構成するZTO薄膜を形成するための酸化物ターゲット材を提供する。【解決手段】 金属成分全体に対して、Snを20原子%〜50原子%含有し、残部がZnおよび不可避的不純物からなり、L*a*b*表色系におけるa*が−2.5以下、b*が−0.3以下であり、a*は−3.0以上、b*は−0.8以上であることが好ましく、金属成分全体に対して、Al、Si、Ga、MoおよびWのうち1種以上を合計で0.005原子%〜4.000原子%含有することもできる。【選択図】 図1
OXIDE TARGET MATERIAL
酸化物ターゲット材
KUMAGAI TOMOMASA (author) / UCHIYAMA HIROYUKI (author) / KAMISAKA SHUJIRO (author) / TAMADA YU (author)
2018-12-20
Patent
Electronic Resource
Japanese
Preparation method of oxide target material and praseodymium-doped IGZO oxide target material
European Patent Office | 2024
|European Patent Office | 2024
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