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POLYCRYSTALLINE SILICON CARBIDE SUBSTRATE WITH DENSITY GRADIENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
To provide a silicon carbide substrate with a higher density and a smoother surface.SOLUTION: A polycrystalline silicon carbide (SiC) substrate has a density gradient between a first side 102 of the polycrystalline SiC substrate and a second side 104 of the polycrystalline SiC substrate opposite to the first side. A first density at the first side of the polycrystalline SiC substrate is less than a second density at the second side of the polycrystalline SiC substrate. The polycrystalline SiC substrate with the density gradient may be formed by forming a polycrystalline SiC base substrate with a sintering process and a subsequent post-sintering process. For example, the post-sintering process may be at least one of: applying a first temperature to the first side of the polycrystalline SiC substrate and a second temperature to the second side thereof; and performing a chemical vapor deposition (CVD) process to impregnate further silicon (Si) and carbon (C) atoms into the polycrystalline SiC base substrate.SELECTED DRAWING: Figure 1A
【課題】より高い密度、より平滑な表面を有するシリコンカーバイド基板を提供する。【解決手段】多結晶シリコンカーバイド(SiC)基板の第1の側102と、第1の側とは反対の、多結晶SiC基板の第2の側104との間に密度勾配を有する、多結晶SiC基板。多結晶SiC基板の第1の側における第1の密度は、多結晶SiC基板の第2の側における第2の密度よりも小さい。密度勾配を有する多結晶SiC基板は、焼結プロセス、続いての焼結後プロセスによって多結晶SiCベース基板を形成することによって形成され得る。例えば、焼結後プロセスは、多結晶SiC基板の第1の側に第1の温度を適用し、第2の側に第2の温度を適用すること、及び化学蒸着(CVD)プロセスを実行して、多結晶SiCベース基板に更なるケイ素(Si)及び炭素(C)の原子を含浸させることのうちの少なくとも1つであり得る。【選択図】図1A
POLYCRYSTALLINE SILICON CARBIDE SUBSTRATE WITH DENSITY GRADIENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
To provide a silicon carbide substrate with a higher density and a smoother surface.SOLUTION: A polycrystalline silicon carbide (SiC) substrate has a density gradient between a first side 102 of the polycrystalline SiC substrate and a second side 104 of the polycrystalline SiC substrate opposite to the first side. A first density at the first side of the polycrystalline SiC substrate is less than a second density at the second side of the polycrystalline SiC substrate. The polycrystalline SiC substrate with the density gradient may be formed by forming a polycrystalline SiC base substrate with a sintering process and a subsequent post-sintering process. For example, the post-sintering process may be at least one of: applying a first temperature to the first side of the polycrystalline SiC substrate and a second temperature to the second side thereof; and performing a chemical vapor deposition (CVD) process to impregnate further silicon (Si) and carbon (C) atoms into the polycrystalline SiC base substrate.SELECTED DRAWING: Figure 1A
【課題】より高い密度、より平滑な表面を有するシリコンカーバイド基板を提供する。【解決手段】多結晶シリコンカーバイド(SiC)基板の第1の側102と、第1の側とは反対の、多結晶SiC基板の第2の側104との間に密度勾配を有する、多結晶SiC基板。多結晶SiC基板の第1の側における第1の密度は、多結晶SiC基板の第2の側における第2の密度よりも小さい。密度勾配を有する多結晶SiC基板は、焼結プロセス、続いての焼結後プロセスによって多結晶SiCベース基板を形成することによって形成され得る。例えば、焼結後プロセスは、多結晶SiC基板の第1の側に第1の温度を適用し、第2の側に第2の温度を適用すること、及び化学蒸着(CVD)プロセスを実行して、多結晶SiCベース基板に更なるケイ素(Si)及び炭素(C)の原子を含浸させることのうちの少なくとも1つであり得る。【選択図】図1A
POLYCRYSTALLINE SILICON CARBIDE SUBSTRATE WITH DENSITY GRADIENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
密度勾配を有する多結晶シリコンカーバイド基板及びその製造方法
BJOERN MAGNUSSON LINDGREN (author) / CARLO RIVA (author)
2024-10-16
Patent
Electronic Resource
Japanese
IPC:
C04B
Kalk
,
LIME
POLYCRYSTALLINE SILICON CARBIDE SUBSTRATE AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
European Patent Office | 2020
|European Patent Office | 2020
|Polycrystalline SiC substrate and method for manufacturing same
European Patent Office | 2021
|Manufacturing method for clean type silicon carbide substrate
European Patent Office | 2024
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