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Electromigration - a typical corrosion phenomenon in microelectronics

Schmitt-Thomas, K. G. / Wege, S. / Schweigart, H.

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Titel:

Electromigration - a typical corrosion phenomenon in microelectronics

Beteiligte:

Schmitt-Thomas, K. G. (Autor:in) / Wege, S. (Autor:in) / Schweigart, H. (Autor:in)

Erschienen in:

WERKSTOFFE UND KORROSION -WEINHEIM- ; 46 ; 366

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

366 pages

ISSN:

0043-2822

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11223

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