Correlation of EBIC and SWBXT Imaged Defects and Epilayer Growth Pits in 6H-SiC Schottky Diodes: Fid-Bau Portal

Correlation of EBIC and SWBXT Imaged Defects and Epilayer Growth Pits in 6H-SiC Schottky Diodes

Schnabel, C. M. / Tabib-Azar, M. / Neudeck, P. G. / Bailey, S. G. / Su, H. B. / Dudley, M. / Raffaelle, R. P.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Correlation of EBIC and SWBXT Imaged Defects and Epilayer Growth Pits in 6H-SiC Schottky Diodes

Schnabel, C. M. / Tabib-Azar, M. / Neudeck, P. G. / Bailey, S. G. / Su, H. B. / Dudley, M. / Raffaelle, R. P.

Correlation of EBIC and SWBXT Imaged Defects and Epilayer Growth Pits in 6H-SiC Schottky Diodes

Schnabel, C. M. / Tabib-Azar, M. / Neudeck, P. G. / Bailey, S. G. / Su, H. B. / Dudley, M. / Raffaelle, R. P.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Correlation of EBIC and SWBXT Imaged Defects and Epilayer Growth Pits in 6H-SiC Schottky Diodes

Beteiligte:

Schnabel, C. M. (Autor:in) / Tabib-Azar, M. (Autor:in) / Neudeck, P. G. (Autor:in) / Bailey, S. G. (Autor:in) / Su, H. B. (Autor:in) / Dudley, M. (Autor:in) / Raffaelle, R. P. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 489-492

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Duval, P. / Silvestre, G. C. M. / Moore, R. A. | British Library Online Contents | 1997

Conventional EBIC versus MOS/EBIC study of electrically active defects in Si and SOI

Bondarenko, I. / Kirk, H. / Kononchuk, O. et al. | British Library Online Contents | 1996

Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes

Scaltrito, L. / Porro, S. / Giorgis, F. et al. | British Library Online Contents | 2003

Electrically active defects in SiC Schottky barrier diodes

Gelczuk, u. / DÄ…browska-szata, M. / Synowiec, Z. a. | British Library Online Contents | 2011

EBIC Analysis of Breakdown Failure Point in 4H-SiC PiN Diodes

Ohyanagi, T. / Bin, C. / Sekiguchi, T. et al. | British Library Online Contents | 2009

Nach oben