Photon Emission Analysis of Defect-Free 4H-SiC pn Diodes in Avalanche Regime: Fid-Bau Portal

Photon Emission Analysis of Defect-Free 4H-SiC pn Diodes in Avalanche Regime

Banc, C. / Bano, E. / Ouisse, T. / Vassilevski, K. / Zekentes, K.

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Titel:

Photon Emission Analysis of Defect-Free 4H-SiC pn Diodes in Avalanche Regime

Beteiligte:

Banc, C. (Autor:in) / Bano, E. (Autor:in) / Ouisse, T. (Autor:in) / Vassilevski, K. (Autor:in) / Zekentes, K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 1293-1296

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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