Relative quantification of cellular sections with molecular depth profiling ToF-SIMS imaging: Fid-Bau Portal

Relative quantification of cellular sections with molecular depth profiling ToF-SIMS imaging

Kurczy, M. E. / Kozole, J. / Parry, S. A. / Piehowski, P. D. / Winograd, N. / Ewing, A. G.

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Titel:

Relative quantification of cellular sections with molecular depth profiling ToF-SIMS imaging

Beteiligte:

Kurczy, M. E. (Autor:in) / Kozole, J. (Autor:in) / Parry, S. A. (Autor:in) / Piehowski, P. D. (Autor:in) / Winograd, N. (Autor:in) / Ewing, A. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 1158-1161

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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