Orientation dependence of electrical properties for Bi4-xNdxTi3O12 (x=0.85) thin film deposited on p-type Si(100) substrate: Fid-Bau Portal

Orientation dependence of electrical properties for Bi4-xNdxTi3O12 (x=0.85) thin film deposited on p-type Si(100) substrate

Yi, S. W. / Kim, S. S. / Kim, W. J. / Do, D.

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Titel:

Orientation dependence of electrical properties for Bi4-xNdxTi3O12 (x=0.85) thin film deposited on p-type Si(100) substrate

Beteiligte:

Yi, S. W. (Autor:in) / Kim, S. S. (Autor:in) / Kim, W. J. (Autor:in) / Do, D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 255 ; 2710-2714

Erscheinungsdatum:

01.01.2008

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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