Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Evolution of end-of-range defects in silicon-on-insulator substrates

    Neue Suche nach: Fazzini, P. F.
    Neue Suche nach: Cristiano, F.
    Neue Suche nach: Dupre, C.
    Neue Suche nach: Paul, S.
    Neue Suche nach: Ernst, T.
    Neue Suche nach: Kheyrandish, H.
    Neue Suche nach: Bourdelle, K. K.
    Neue Suche nach: Lerch, W.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Evolution of end-of-range defects in silicon-on-insulator substrates

    Neue Suche nach: Fazzini, P. F.
    Neue Suche nach: Cristiano, F.
    Neue Suche nach: Dupre, C.
    Neue Suche nach: Paul, S.
    Neue Suche nach: Ernst, T.
    Neue Suche nach: Kheyrandish, H.
    Neue Suche nach: Bourdelle, K. K.
    Neue Suche nach: Lerch, W.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Evolution of end-of-range defects in silicon-on-insulator substrates

    Neue Suche nach: Fazzini, P. F.
    Neue Suche nach: Cristiano, F.
    Neue Suche nach: Dupre, C.
    Neue Suche nach: Paul, S.
    Neue Suche nach: Ernst, T.
    Neue Suche nach: Kheyrandish, H.
    Neue Suche nach: Bourdelle, K. K.
    Neue Suche nach: Lerch, W.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Evolution of end-of-range defects in silicon-on-insulator substrates

    Beteiligte:

    Fazzini, P. F. (Autor:in) / Cristiano, F. (Autor:in) / Dupre, C. (Autor:in) / Paul, S. (Autor:in) / Ernst, T. (Autor:in) / Kheyrandish, H. (Autor:in) / Bourdelle, K. K. (Autor:in) / Lerch, W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B ADVANCED FUNCTIONAL SOLID STATE MATERIALS ; 154-155 ; 256-259

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    SiC Freestanding Micromechanical Structures on Silicon-On-Insulator Substrates

    Placidi, M. / Zielinski, M. / Abadal, G. et al. | British Library Online Contents | 2009

    Activation and deactivation of phosphorus in silicon-on-insulator substrates

    Chang, Ruey-Dar / Lin, Chih-Hung | British Library Online Contents | 2016

    Characterization of GaN layers grown on silicon-on-insulator substrates

    Tripathy, S. / Wang, L. S. / Chua, S. J. | British Library Online Contents | 2006

    Visible and Infrared Optical Reflectance Spectroscopy of Silicon-On-Insulator Substrates

    O'Keeffe, M. / Lynch, S. / Crean, G. M. | British Library Online Contents | 1993

    Incoming Inspection of Silicon-On-Insulator Substrates Using Spectroscopic and Single Wavelength Ellipsometry

    Lynch, S. / Crean, G. M. | British Library Online Contents | 1993

    Nach oben