Microstructural Characteristics of InGaZnO Thin Film Using an Electrical Current Method: Fid-Bau Portal

Microstructural Characteristics of InGaZnO Thin Film Using an Electrical Current Method

Chen, Y.-T. / Hung, F.-Y. / Chang, S.-J. / Lui, T.-S. / Chen, L.-H.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Microstructural Characteristics of InGaZnO Thin Film Using an Electrical Current Method

Chen, Y.-T. / Hung, F.-Y. / Chang, S.-J. / Lui, T.-S. / Chen, L.-H.

Microstructural Characteristics of InGaZnO Thin Film Using an Electrical Current Method

Chen, Y.-T. / Hung, F.-Y. / Chang, S.-J. / Lui, T.-S. / Chen, L.-H.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Microstructural Characteristics of InGaZnO Thin Film Using an Electrical Current Method

Beteiligte:

Chen, Y.-T. (Autor:in) / Hung, F.-Y. (Autor:in) / Chang, S.-J. (Autor:in) / Lui, T.-S. (Autor:in) / Chen, L.-H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS TRANSACTIONS ; 53 ; 733-738

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1345-9678

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Pearton, S.J. / Lim, W.T. / Douglas, E. et al. | British Library Online Contents | 2012

Improvements in passivation effect of amorphous InGaZnO thin film transistors

Dong, C. / Shi, J. / Wu, J. et al. | British Library Online Contents | 2014

A study on materials interactions between Mo electrode and InGaZnO active layer in InGaZnO-based thin film transistors

Park, K. / An, C.-H. / Hwang, B.-I. et al. | British Library Online Contents | 2010

Sputtered oxides used for passivation layers of amorphous InGaZnO thin film transistors

Wu, Jie / Chen, Yuting / Zhou, Daxiang et al. | British Library Online Contents | 2015

Dependence of annealing on stability of transparent amorphous InGaZnO thin film transistor

Li, X. / Xin, E. / Chen, L. et al. | British Library Online Contents | 2013

Nach oben