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    Titel:

    Impact of Surface Morphology on the Electrical Properties of Al/Ti Ohmic Contacts on Al-Implanted 4H-SiC

    Beteiligte:

    Frazzetto, A. (Autor:in) / Roccaforte, F. (Autor:in) / Giannazzo, F. (Autor:in) / Nigro, R.L. (Autor:in) / Bongiorno, C. (Autor:in) / Di Franco, S. (Autor:in) / Weng, M.H. (Autor:in) / Saggio, M. (Autor:in) / Zanetti, E. (Autor:in) / Raineri, V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2010 ; 413-416

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 679/680

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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